Micro/Nano-Machining Research and Education Center, Tohoku University
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機械計測
薄膜評価装置
メーカー名(型式) | NEC三栄(MH4000) |
用途 | 硬度、付着力、ヤング率、内部応力を測定。 |
サンプルサイズ | 最大□20 mm(測定内容により異なる。) |
適用例 | 薄膜の硬度測定。 |
主な仕様 | 荷重範囲:0.98 μN–98 mN、押込み深さ測定範囲:0–5 μm |
備考 | |
高周波レーザードップラ計
メーカー名(型式) | ポリテック(UHF-120) |
用途 | 数100 MHz面内振動測定 |
サンプルサイズ | 4 inch(□20 mm程度が好ましい) |
適用例 | SAW素子で励振された表面弾性波の測定。 |
主な仕様 | 測定範囲:2–1200 MHz(50–800 MHzが好ましい)、平面分解能:1 μm |
その他 | レーザー(532 nm, 5 mW, Class 3R)、使用時は安全メガネ着用 |
備考 | |
マイクロシステムアナライザ
メーカー名(型式) | Polytec (MSA-400, MSA-500) |
用途 | 面内振動計測、面外振動計測、表面形状計測 |
サンプルサイズ | 対物レンズによる。 |
適用例 | 面外振動の共振周波数計測、面内振動の振動観察、表面形状観察 |
主な仕様 | レーザドップラ振動計、ストロボスコープビデオ顕微鏡、白色光干渉計 |
備考 | |
微小振動計測装置
メーカー名(型式) | ネオアーク(MLD-350) |
用途 | 2点同時面外振動計測、最大1.5 MHz |
サンプルサイズ | 最大20 mm(対物角・対物レンズによる。) |
適用例 | 面外振動の2点同時計測における差分計測 |
主な仕様 | レーザードップラ振動計 |
備考 | |
レーザードップラ振動計
メーカー名(型式) | ネオアーク(MLD-102-IZ) |
用途 | 光ヘテロダイン法による微小振動計測装置。面外・面内計測可能。 |
サンプルサイズ | ステージサイズ100 mm四方 |
適用例 | 機械振動子の振動測定 |
主な仕様 | レーザ光源:He-Neレーザ、応答周波数:DC–100 kHz(縦横)、最小分解能:0.01 μm(縦)/0.04 μm(横) |
備考 | |
圧縮引張試験機
メーカー名(型式) | Zwick (Zwickline Z0.5TN) |
用途(特徴) | 圧縮引張試験 |
サンプルサイズ | 最大85 × 50 mm |
適用例 | 応力歪曲線の取得。 |
主な仕様 | 最大荷重:500 N、速度:0.5 μm/min–2000 mm/min、分解能:0.083 μm、位置精度:±2 μm、測定精度:2 N |
備考 | |
接合力評価装置
メーカー名(型式) | RHESCA (PTR-1101) |
用途 | ウェハボンディングの接合力破壊評価用 |
サンプルサイズ | 接合面積は5 mm2以下が望ましい(シェア最大加重100 kg) |
適用例 | 接合面積1 mm2におけるAu-Au熱圧着接合・Si-Si直接接合の接合シェア強度の評価。 |
主な仕様 | センサ加重範囲:シェア:100 gf–100 kgf、プル・プッシュ:20 gf–20 kgf |
備考 | |