- 当研究室の論文（W.Gao et al., CIRP Annals-Manufacturing Technology, Vol. 64, (2015), pp. 773-796.）がWeb of Scienceの発表したEngineering分野における「高被引用論文（各研究分野における被引用数が世界の上位1%に入る、卓越した論文）」に選出されました．
- 当研究室の論文が“Highlights 2018 in Precision Measurement” (Measurement Science and Technology)に選出されました．
- 当研究室の論文が"“Highly Cited Research in Precision Engineering” (Elsevier)に選出されました．
- 当研究室の論文が“Highlights 2014 in Precision Measurement” (Measurement Science and Technology)に選出されました．
- 研究室OBのNoh Youngjinさん（2008年度博士修了，Samsung電子），Lee Junchulさん（2012年度博士修了，Samsung電子），Jang Sunghoさん（2013年度博士修了，Samsung電子）よりマスクをご寄贈頂きました．ありがとうございます．大切に使わせて頂きます．
- 研究室OBのXu Binさん（2013年博士終了，現中国成都市），NiuZengyuanさん（2018年博士修了，現中国昆山市）よりマスクをご寄贈頂きました．ありがとうございます．大切に使わせて頂きます．
Copyright© 2017, Precision Nanometrology Laboratory, Tohoku University, Sendai, Japan.
