主催：公益社団法人 日本顕微鏡学会 走査電子顕微鏡分科会
日時：2024年8月30日（金） 10:00～18:30
会場：
東京都市大学 世田谷キャンパス ２号館
（ https://www.tcu.ac.jp/ ）
〒158-8557 東京都世田谷区玉堤1-28-1
プログラム：https://scantech.jp/program/24.html
- EPMAを用いた高分解能軟X線発光分光測定による原子力・核融合炉材料中の軽元素化学状態分布分析
笠田 竜太（東北大学）
概要：
原子力や核融合炉に用いられている材料では、特徴的な核的性質を有する軽元素が活用されている。一方、これらの材料の物理的・化学的性質に対する軽元素の影響を理解するためには、化学結合状態を明らかにすることが有効であり、透過型電子顕微鏡や放射光施設が活用されている。しかし、これらの装置が測定対象とするスケールや測定環境は、材料組織のスケールとマッチしないことも多い。本講演では、電子プローブマイクロアナライザや走査型電子顕微鏡に装着可能な高分解能軟X線発光分光測定法を用いて、原子力・核融合炉材料中の軽元素の化学結合状態分布を明らかにした結果について概説する。