Last updated 2014. 9. 2
（査読なし論文を含む）
ここでは，材料システム評価学分野（坂 研究室/燈明研究室）の近年学術誌等に掲載された解説・展望および査読なしの論文等を紹介します。
2014年
■Investigating Testing Conditions for Electromigration Evaluation and Effect of Additive Elements on Electromigration Resistance of Sn58Bi Solder
[Int. Conf. on Soldering and Reliability, May 14-15, 2014, Toronto, Ontario,Canada, CD-ROM)]
X. Zhao, M. Saka, M. Muraoka, M. Yamashita and H. Hokazono
■非破壊検査の知識普及活動〜知識普及活動の意義
[非破壊検査, （2014年9月，63巻9号，460頁)]
坂 真澄
2013年
−−
2012年
−−
2011年
−−
2010年
■サンプリングモアレ法による大型構造物の全視野変位分布計測
[非破壊検査, （2010年7月，59巻7号，328-333頁)]
李 志遠，南原健一，小林大輔
2009年
■サンプリングモアレ法による構造物の非接触変位分布計測
[検査技術, （2009年5月，14巻5号，1-6頁)]
李 志遠，森本吉春，藤垣元治
■A Technique Utilizing Chemical Reagents for Direct Measurement of Temperature at a Local Area and Its Engineering Applications
[Acta Mech. Sinica, （2009年4月，25巻2号，149-160頁)]
M. Saka and T. Hasegawa
2008年
−−
2007年
■４探針型原子間力顕微技術による局所領域における導電率の定量評価
[材料, （2007年10月，896-899頁)]
巨 陽，坂 真澄
2006年
■閉じたき裂面からの超音波散乱波の向上と非破壊評価
[第55回理論応用力学講演会講演論文集, （2006年1月，585-586頁)]
燈明泰成，坂 真澄
■近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
[日本非破壊検査協会 第9回表面探傷シンポジウム講演論文集, （2006年2月，23-24頁)]
燈明泰成，シェイク リアズ アーメド，坂 真澄
■直流電位差法による厚肉部材裏面き裂の非破壊評価
[日本機械学会東北支部 第41期総会・講演会講演論文集, （2006年3月，211-212頁)]
坂 真澄，松浦 譲，シェイク リアズ アーメド
■Repeatable Measurement of DC Potential for Evaluation of Rear-Wall Flaws
[日本非破壊検査協会 平成17年度第3回電場計測非破壊評価研究会, （2006年3月)]
S. R. Ahmed and M. Saka
■Local Thermal Treatment for Opening the Closed Cracks
[Proc. 7th Far-East Conf. Nondestructive Testing (FENDT 2006), Gyeongju, Korea（2006年5月, 33-39頁)]
M. Saka, H. Tohmyoh, H. Okabe and S. R. Ahmed
■Dry Acoustic Microscope for Visualizing the Defects in Electronic Devices
[Proc. 7th Far-East Conf. Nondestructive Testing (FENDT 2006), Gyeongju, Korea（2006年5月, 69-72頁)]
H. Tohmyoh and M. Saka
■近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
[非破壊検査, （2006年11月，567-570頁)]
燈明泰成
2005年
■Microwave NDE of Small Cracks in Stainless Steel in Water Environment
[Proc. Third US-Japan Symposium on Advancing Applications and Capabilities in NDE, (2005年6月, CD-ROM)]
Y. Ju, T. Miyadu, H. Soyama and M. Saka
■閉じたき裂の非破壊評価 ―熱による開口策―
[非破壊検査, （2005年12月，54巻12号, 637-641頁)]
坂 真澄，燈明泰成，岡部英明
＊解説・展望については随時追加更新します。
「解説・展望」 (1999年〜2004年)
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2014年
■Investigating Testing Conditions for Electromigration Evaluation and Effect of Additive Elements on Electromigration Resistance of Sn58Bi Solder
[Int. Conf. on Soldering and Reliability, May 14-15, 2014, Toronto, Ontario,Canada, CD-ROM)]
X. Zhao, M. Saka, M. Muraoka, M. Yamashita and H. Hokazono
■非破壊検査の知識普及活動〜知識普及活動の意義
[非破壊検査, （2014年9月，63巻9号，460頁)]
坂 真澄
2013年
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2012年
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2011年
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2010年
■サンプリングモアレ法による大型構造物の全視野変位分布計測
[非破壊検査, （2010年7月，59巻7号，328-333頁)]
李 志遠，南原健一，小林大輔
2009年
■サンプリングモアレ法による構造物の非接触変位分布計測
[検査技術, （2009年5月，14巻5号，1-6頁)]
李 志遠，森本吉春，藤垣元治
■A Technique Utilizing Chemical Reagents for Direct Measurement of Temperature at a Local Area and Its Engineering Applications
[Acta Mech. Sinica, （2009年4月，25巻2号，149-160頁)]
M. Saka and T. Hasegawa
2008年
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2007年
■４探針型原子間力顕微技術による局所領域における導電率の定量評価
[材料, （2007年10月，896-899頁)]
巨 陽，坂 真澄
2006年
■閉じたき裂面からの超音波散乱波の向上と非破壊評価
[第55回理論応用力学講演会講演論文集, （2006年1月，585-586頁)]
燈明泰成，坂 真澄
■近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
[日本非破壊検査協会 第9回表面探傷シンポジウム講演論文集, （2006年2月，23-24頁)]
燈明泰成，シェイク リアズ アーメド，坂 真澄
■直流電位差法による厚肉部材裏面き裂の非破壊評価
[日本機械学会東北支部 第41期総会・講演会講演論文集, （2006年3月，211-212頁)]
坂 真澄，松浦 譲，シェイク リアズ アーメド
■Repeatable Measurement of DC Potential for Evaluation of Rear-Wall Flaws
[日本非破壊検査協会 平成17年度第3回電場計測非破壊評価研究会, （2006年3月)]
S. R. Ahmed and M. Saka
■Local Thermal Treatment for Opening the Closed Cracks
[Proc. 7th Far-East Conf. Nondestructive Testing (FENDT 2006), Gyeongju, Korea（2006年5月, 33-39頁)]
M. Saka, H. Tohmyoh, H. Okabe and S. R. Ahmed
■Dry Acoustic Microscope for Visualizing the Defects in Electronic Devices
[Proc. 7th Far-East Conf. Nondestructive Testing (FENDT 2006), Gyeongju, Korea（2006年5月, 69-72頁)]
H. Tohmyoh and M. Saka
■近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
[非破壊検査, （2006年11月，567-570頁)]
燈明泰成
2005年
■Microwave NDE of Small Cracks in Stainless Steel in Water Environment
[Proc. Third US-Japan Symposium on Advancing Applications and Capabilities in NDE, (2005年6月, CD-ROM)]
Y. Ju, T. Miyadu, H. Soyama and M. Saka
■閉じたき裂の非破壊評価 ―熱による開口策―
[非破壊検査, （2005年12月，54巻12号, 637-641頁)]
坂 真澄，燈明泰成，岡部英明
＊解説・展望については随時追加更新します。
「解説・展望」 (1999年〜2004年)
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