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ミクロ歪の評価
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| 金属が破壊する原因の一つとして、結晶粒オーダまたは結晶粒内の歪(以下、ミクロ歪)を考えており、ミクロ歪の変化を評価する研究を行っています。
本研究室では、X線回折のWilliamson-Hall法およびファンダメンタルパラメータ法を用いたミクロ歪の評価を検証しています。下図には、本研究室のX線回折測定装置を示しています。また、純鉄にディスクグラインダによる表面仕上げを行ったものにキャビテーション・ピーニングによって処理し、ミクロ歪の低減(X線回折ピークの拡がりの減少)を実証しました。 |
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X線回折の概略図 |
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ミクロ歪評価グラフ |
